Auswertung in der Refraktivchirurgie
Zeiss erhält FDA-Zulassung für Epithelschichtdicke-Mapping
Die Medizintechniksparte von Zeiss meldet, dass das Unternehmen eine 510(k)-Zulassung von der US-Zulassungsbehörde FDA für sein Anterior Segment Premier Modul erhielt. Dabei handelt es sich um eine Erweiterung des Systems Cirrus HD-OCT für das Epithelschichtdicke-Mapping.
Wie der Refraktivchirurg Dr. John Doane vom Discover Vision Center in Kansas City, USA, erläutert, modelliert sich das Epithel, die äußerste Schicht der Hornhaut, aktiv selbst neu. Etwa als Reaktion auf kleinste Formveränderungen, beispielsweise durch Erkrankungen wie einem Keratokonus im Frühstadium. Diese können durch eine Hornhauttopographie allein oft nicht erkannt werden. »Mit dem Epithelschichtdicken-Mapping kann ich die Eignung der Patienten für die refraktive Chirurgie viel besser bestimmen, außerdem kann ich den Heilungsverlauf der Hornhaut nach dem Eingriff besser überwachen, so Doane.
Beim ETM mit Cirrus wird eine 9-Millimeter-Karte der Epithelschichtdicke erstellt, mit deren Hilfe Patienten vor dem refraktiven Eingriff gründlich untersucht werden können und die die Überwachung der Reaktionen in der Hornhaut nach der Behandlung ermöglicht. Damit wird das Management von Patienten mit Erkrankungen der Augenoberfläche, wie dem trockenen Auge oder progressiven Hornhauterkrankungen wie Keratokonus, unterstützt. Für die Patienten ist es eine schnelle und berührungslose Untersuchung, die weniger als eine Sekunde dauere.
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Zeiss stellt das neue ETM-Modul in der aktuellen CIRRUS-Softwareversion zusammen mit anderen Produkten auf dem Stand Nr. LP4003 der Vision Expo East in New York vom 21. bis 24. März vor. (me)
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