Laser World of Photonics 2022
Photonische Neuheiten von Jenoptik
Neben neuen Optiken und Strahlaufweitern informiert Jenoptik mittels Live-Demonstration zum optischen System Jenvelt.
Halle B5, Stand 241 - Diese Messehighlights zeigt Jenoptik auf der Laser World of Photonics 2022:
Objektive
Neue Aptaline-Reihe an F-Theta-Objektiven: Die High-Power-Objektive aus Quarzglas bieten eine kostenoptimierte Alternative für anspruchsvollen Anwendungen, bei denen Zuverlässigkeit, Serienstabilität und Langlebigkeit zählen. Sie sind mit den Wellenlängen 355 nm und 1030-1080 nm erhältlich. Die Aptaline-Objektive basieren auf dem bewährten Mechanik- sowie Optik-Design von Jenoptik und unterliegen den gleichen hohen Qualitätsstandards wie bestehende F-Theta-Produkte.
Strahlaufweitung
Fix-Bex Beam Expander mit fester Vergrößerung: Egal ob als 1,5x, 2x, 4x oder 8x-Version verbaut: Sie zeigen sich als gute Wahl für Applikationen, bei denen ein gleichbleibender Zoomfaktor und eine klare, stabile Laserleistung gefordert sind. Fix-Bex Strahlaufweiter sind für Wellenlängen von 355 nm, 515…540 nm oder 1030...1080 nm verfügbar und bieten eine große Eingangslaserleistung (Apertur) von bis zu 8 mm (1/e2). Das hochpräzise optische Design sorgt für eine beugungsbegrenzte Abbildung und verhindert internen Foki. Wie die bestehenden Strahlaufweiter verfügen auch die neuen Fix-BEX-Ausführungen über eine Divergenz-Einstellung. Für hohe Widerstandfähigkeit und Langlebigkeit sind die Gehäuse aus Aluminium bzw. Edelstahl gefertigt. Die optischen Elemente bestehen aus robustem Quarzglas mit AR-Coating. Alle Fix-Bex-Ausführungen sind mit Gewinde an beiden Seiten versehen und können im umgekehrten Modus betrieben werden.
Optoelektronisches Wafer-Testen
Die optoelektronische Ufo Probe Card bietet Wafer-Herstellern bzw. Anbietern von Wafer-Test-Ausrüstung eine zeitsparende und Ausbeute erhöhende Lösung für ein synchrones Testen von elektronische sowie photonischen Bauteilen – und das mit einer einzigen Testkarte. Die Ufo Probe Card ist so konzipiert, dass sie auf bestehender Test-Infrastruktur von elektronischen Bauteilprüfung, funktioniert. Das ermöglicht ein schnelles und einfaches Umrüsten vom elektrischen auf ein opto-elektrisches Testen ohne zusätzlichen Rüstaufwand. Die Prüfkarte vereint ein Optik-Modul zur Funktionsprüfung von photonisch integrierten Schaltkreisen (PICs) und ein klassischen Nadeltester zur Prüfung von elektronischen Komponenten. Auch paralleles Testen mehrerer Chips ist mit der Ufo Probe Card angedacht und erlaubt eine effiziente Herstellung von leistungsfähigen Chips vor allem in der Hochvolumen-Produktion. (uh)
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